DPLS-Y4000R
数字化正电子湮没寿命谱仪
DPLS-Y4000R数字化正电子湮没寿命谱仪，主要用于用于研究材料科学中的微观结构和缺陷。通过结合精选晶体、光电倍增管、数字采集卡、结合独家算法，实现测量寿命谱时间分辨率小于190ps, 1.275MeV处能量分辨率小于3.5%, 各项参数均处于行业领先水平。利用 AI 算法实现自动设置， 省去繁复的调试过程， 消除使用门槛， 真正让用户开机即用、一键测量。
- 特征指标
特征指标
1、时间分辨率≤190ps（使用 Na-22 测量正电子湮没寿命谱）
2、时间分辨率≤155ps（使用 Co-60 测量符合时间谱）
3、具备一键设置功能，自动设置所有测量参数，用户无需调试直接使用
4、具备自动校准功能，测量过程中始终保持参数的稳定
1、时间分辨率≤190ps（使用 Na-22 测量正电子湮没寿命谱）
2、时间分辨率≤155ps（使用 Co-60 测量符合时间谱）
3、具备一键设置功能，自动设置所有测量参数，用户无需调试直接使用
4、具备自动校准功能，测量过程中始终保持参数的稳定
