功率半导体测试数据采集系统

功率半导体器件广泛应用于输电/储电系统、电动汽车、家用电器、铁路和工业设备等领域,通过提升能源效率来节约能源,减少二氧化碳排放。碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等第三代半导体材料因其在更高电压、频率和温度下的优异性能,逐渐取代传统硅基器件。随着这些器件的发展,测试系统必须具备更高的电压和电流测试能力,以及更高的精度和灵敏度,以确保其可靠性和性能。

 

Si、SiC 和 GaN 器件主要材料特性雷达图和应用


功率半导体测试设备通常由信号发生器、高压电源、驱动电路、电压探头/电流传感器、充放电模块、温控模块、数据采集模块等构成。中科采象基于PXIe/PCIe架构推出了创新的功率半导体测试数据采集解决方案,保障采集信号数据的安全性与完整性,通过FPGA的波形数字化处理算法和模块化仪器技术,实现高速实时数据处理,并能灵活适配各种应用需求和场景。

中科采象功率半导体测试数据采集解决方案

 

参考资料:
1、Musumeci S, Barba V. Gallium Nitride Power Devices in Power Electronics Applications: State of Art and Perspectives[J]. Energies, 2023, 16(9): 3894.
2、Infineon Technologies AG,《Double Pulse Testing:The How, What and Why》
3、Rohde & Schwarz,《Tips & Tricks on Double-Pulse Testing》
4、中金企信,《2023年中国功率半导体检测设备行业优势企业对比分析及市场竞争格局研究预测》
5、T/CASAS 007-2020 电动汽车用碳化硅(SiC)场效应晶体管(MOSFET)模块评测规范

客户案例

与传统示波器方案相比,中科采象的功率半导体测试数据采集系统具有显著优势。系统集成度更高,模块化设计小巧便于集成,提升了灵活性。数据传输速度更快,采用高速PCIe 3.0 x8接口,传输速率相比示波器提升了6.4倍。数据处理更灵活,支持通过板载FPGA进行自定义算法开发,优化信号处理,提升测试精度与效率。

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